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※本セミナーはZoomを使ったWEBセミナーです。在宅、会社にいながらセミナーを受けられます。
『XPS（X線光電子分光法）の基礎と応用および測定法【LIVE配信】』
～スペクトル解析から材料評価まで～ |
| 開催日時 |
2025年5月29日（木） 12:30～16:30 |
| 開催場所 |
【WEB限定セミナー】※会社やご自宅でご受講下さい。
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| 価格 |
非会員： 49,500円 （本体価格：45,000円）
会員： 46,200円 （本体価格：42,000円）
学生： 49,500円 （本体価格：45,000円）
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| 価格関連 |
会員（案内）登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円（税込）から
★1名で申込の場合、46,200円（税込）へ割引になります。
★2名同時申込で両名とも会員登録をしていただいた場合、計49,500円（2人目無料）です。
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| 備 考 |
・セミナー資料は事前に郵送いたします。会社以外の場所で受け取りを希望される場合は、申し込みフォームの通信欄にご住所をご記入下さい。
※資料の無断転載、二次利用や講義の録音、録画などの行為を固く禁じます。
【Zoomを使ったWEB配信セミナー受講の手順】
１）Zoomを使用されたことがない方は、こちらからミーティング用Zoomクライアントをダウンロードしてください。ダウンロードできない方はブラウザ版でも受講可能です。
２）セミナー前日までに必ず動作確認をお願いします。
３）開催日直前にWEBセミナーへの招待メールをお送りいたします。当日のセミナー開始10分前までに招待メールに記載されている視聴用URLよりWEB配信セミナーにご参加ください。
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| 主 催 |
R&D支援センター |
※請求書、招待メール等は、R&D支援センター社より送付いたします。
| 講師 |
早稲田大学 教育・総合科学学術院 非常勤講師／
東京理科大学先進工学部 非常勤講師 博士（工学） 中尾 愛子 氏
【略歴】
1984年3月 早稲田大学大学院理工学研究科博士前期課程 修了
1984年4月 住友スリーエム（株）入社
1990年6月 住友スリーエム（株）退職
1990年7月 理化学研究所 入所
2000年5月 工学博士取得(東京大学)
2019年3月 理化学研究所 定年退職
2019年4月-2023年3月 早稲田大学 ナノ・ライフ創新研究機構 研究院客員教授
2023年4月 早稲田大学 教育・総合科学院 非常勤講師
2024年4月 東京理科大学 先進工学部 非常勤講師
【著書】
・全個体電池の界面抵抗低減と作成プロセス、評価技術 2020年3月 技術情報協会
“X線光電子分光法を用いた全個体電池の固／固界面・表面解析
・リチウムイオン電池の分析、解析と評価技術 事例集 2019年11月 技術情報協会
“X線光電子分光法を用いた全個体電池の固／固界面・表面解析
・先端バイオマテリアルハンドブック2012年6月 NTS Inc.
“X線光電子分光法（X-ray Photoelectron Spectroscopy）”
・ナノバイオエンジニアリングマテリアル 2004年3月 フロンテイア出版刊
“イオンビーム照射によるポリマー表面のバイオ機能化” |
| 受講対象・レベル |
X線光電子分光法（XPS） に携わって、まだ年数が浅い方から、すでに何年も携わっていられる方で、さらに、ご自分の技術を改善したい方まで、幅広い方々 |
| 必要な予備知識 |
特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。 |
習得できる
知識 |
・XPSの原理
・XPSによる定性、定量、化学状態分析
・材料別によるXPSの測定法、試料の調整法
・チャージアップ対策
・XPSの装置管理体制のヒント |
| 趣旨 |
X線光電子分光法（X-ray Photoelectrons Spectroscopy:XPS）は、材料表面分析手法の一つである。材料表面数nmの定性、定量分析だけでなく、化学結合状状態分析が可能で、材料表面の特性を評価するのに有用な手法である。また、検出器と試料の検出角度を変化させる検出角度分解法による非破壊の深さ方向分析や、Ar（アルゴン）スパッタリングを併用しながら、材料の深さ方向の分析も可能である。
本セミナーでは、まず、XPSの原理およびスペクトルから得られる基本的な情報、得られたスペクトルの解析法を紹介する。次に、より正確な解析を行うためのチャージアップ対策などの測定条件やサンプルプレパレーションの工夫に触れる。 次に、実際的な測定応用例として、二次電池材料やバイオポリマーなど、機能性材料について、実際に評価した事例、また、XPSを最大限にまで活用したチャレンジング解析事例について解説する。また、装置のメンテナンスについても触れ、XPS装置の初歩から応用までの全体的な内容を解説する。
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| プログラム |
１．X線光電子分光法（XPS）
1-1．表面分析とは
1-2．XPSの原理
1-3．定性、定量、化学状態分析
1-4．測定条件について
２．XPSを用いた材料評価
2-1．粉末、薄膜など、材料の形態と試料調整、測定法
2-2．材料別の（金属、無機材料、有機材料、高分子等）、試料調整、測定法
2-3.より正確な情報を得るために
３．実際の測定例
3-1 機能性材料表面への応用
3-2 チャレンジングな解析事例
４．XPS装置の管理
4-1 装置のメンテナンス
4-2 メンテナンス体制
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